論文 - 小林　成貴

Investigation on Nanoscale Processes on the BaF2(111) Surface in Various Solutions by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy 査読

Naritaka Kobayashi, Ryuzo Kawamura, Hiroshi Y Yoshikawa, Seiichiro Nakabayashi

Journal of Applied Physics   119   214308   2016年6月

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担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.4953233

Photosensitizer-Conjugated Ultrasmall Carbon Nanodots as Multifuncional Fluorescent Probes for Bioimaging 査読

Alexandre Loukanov, Ryota Sekiya, Midori Yoshikawa, Naritaka Kobayashi, Yuji Moriyasu, Seiichiro Nakabayashi

Journal of Physical Chemistry C   120   15867 - 15874   2016年4月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1021/acs.jpcc.5b11721

A Relationship between Three-Dimensional Surface Hydration Structure and Force Distribution Measured by Atomic Force Microscopy 査読

Keisuke Miyazawa, Naritaka Kobayashi, Matthew Watkins, Alexander Shluger, Ken-ichi Amano, Takeshi Fukuma

Nanoscale   8   7334 - 7342   2016年3月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1039/c5nr08092d

Quantitative Evaluation of Cancer Cell Adhesion to Self-Assembled Monolayer-Patterned Substrates by Reflection Interference Contrast Microscopy 査読

Takahisa Matsuzaki, Kosaku Ito, Kentaro Masuda, Eisuke Kakinuma, Rumi Sakamoto, Kentaro Iketaki, Hideaki Yamamoto, Masami Suganuma, Naritaka Kobayashi, Seiichiro Nakabayashi, Takashi Tanii, Hiroshi Y Yoshikawa

Journal of Physical Chemistry B   120   1221 - 1227   2016年2月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1021/acs.jpcb.5b11870

Visualizing Nanoscale Distribution of Corrosion Cells by Open-Loop Electric Potential Microscopy 査読

Kyoko Honbo, Shoichiro Ogata, Takuya Kitagawa, Takahiro Okamoto, Naritaka Kobayashi, Itto Sugimoto, Shohei Shima, Akira Fukunaga, Chikako Takatoh, Takeshi Fukuma

ACS Nano   10   2575 - 2583   2016年1月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1021/acsnano.5b07552

Nanoscale Corrosion Behavior of Polycrystalline Copper Fine Wires in Dilute NaCl Solution Investigated by In-situ Atomic Force Microscopy 査読

Shoichiro Ogata, Naritaka Kobayashi, Takuya Kitagawa, Shohei Shima, Akira Fukunaga, Chikako Takatoh, Takeshi Fukuma

Corrosion Science   105   177 - 182   2016年1月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1016/j.corsci.2016.01.015

Mechanism of Atomic Force Microscopy Imaging of Three-Dimensional Hydration Structures at a Solid-Liquid Interface 査読

Takeshi Fukuma, Bernhard Reischl, Naritaka Kobayashi, Peter Spijker, Fillip Federici Canova, Keisuke Miyazawa, Adam S. Foster

Physical Review B   92   155412   2015年10月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1103/PhysRevB.92.155412

Atomic-Scale Processes at the Fluorite-Water Interface Visualized by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy 査読

Naritaka Kobayashi, Shirou Itakura, Hitoshi Asakawa,Takeshi Fukuma

Journal of Physical Chemistry C   117   24388 - 24396   2013年10月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1021/jp4076228

Dual Frequency Open-Loop Electric Potential Microscopy for Local Potential Measurements in Electrolyte Solution with High Ionic Strength 査読

Naritaka Kobayashi, Hitoshi Asakawa, Takeshi Fukuma

Review of Scientific Instruments   83   033709   2012年3月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.3698207

Atomic-Resolution Imaging in Liquid by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy Using Small Cantilevers with Megahertz-Order Resonance Frequencies 査読

Takeshi Fukuma, Kyosuke Onishi, Naritaka Kobayashi, Atsushi Matsuki, Hitoshi Asakawa

Nanotechnology   23   135706   2012年3月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1088/0957-4484/23/13/135706

Quantitative Potential Measurements of Nanoparticles with Different Surface Charges in Liquid by Open-Loop Electric Potential Microscopy 査読

Naritaka Kobayashi, Hitoshi Asakawa, Takeshi Fukuma

Journal of Applied Physics   110   044315   2011年8月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.3625230

Nanoscale Potential Measurements in Liquid by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy 査読

Naritaka Kobayashi, Hitoshi Asakawa, Takeshi Fukuma

Review of Scientific Instruments   81   123705   2010年12月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.3514148

High Force Sensitivity in Q-Controlled Phase-Modulation Atomic Force Microscopy 査読

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Applied Physics Letters   97   011906   2010年7月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.3457431

Multifrequency High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids 査読

Yan Jun Li, Kouhei Takahashi, Naritaka Kobayashi, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Ultramicroscopy   110   582 - 584   2010年2月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1016/j.ultramic.2010.02.014

High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM) in Constant-Amplitude (CA) Mode Capable of Simultaneous Measurement of Topography and Energy Dissipation 査読

Yan Jun Li, Naritaka Kobayashi, Hikaru Nomura, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Japanese Journal of Applied Physics   47   6121   2008年7月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1143/JJAP.47.6121

Phase Modulation Atomic Force Microscopy in Constant Excitation Mode Capable of Simultaneous Imaging of Topography and Energy Dissipation 査読

Yan Jun Li, Naritaka Kobayashi, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Applied Physics Letters   92   121903   2008年3月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.2901151

Theoretical Investigation on Force Sensitivity in Q-Controlled Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Constant-Amplitude Mode 査読

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Journal of Applied Physics   103   054305   2008年3月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.2890380

Elimination of Nonlinear Cantilever Dynamics in Phase Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM) in Constant Amplitude Mode 査読

Yasuhiro Sugawara, Naritaka Kobayashi, Masayo Kawakami, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima

Applied Physics Letters   90   194104   2007年5月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1063/1.2737907

High-Sensitivity Force Detection by Phase-Modulation Atomic Force Microscopy 査読

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Japanese Journal of Applied Physics   45   L793 - L796   2006年7月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1143/JJAP.45.L793